SC-E大米外观品质检测仪用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。
SC-E大米外观品质检测仪组成:双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑(电脑另配)。
技术参数:
硬件规格 |
光学分辨(bian)率 | 4800×9600 dpi |
根(gen)系透(tou)扫(sao)幅面(mian)积 | 30 cm×20 cm |
小像(xiang)素尺寸 | 0.0053mm ×0.0026 mm |
软件功能 |
分析测(ce)量 | 可自(zi)动一次性测量分析30g以(yi)(yi)上大米(mi)样品(pin)的:垩白(bai)度/率(lv)、碎米(mi)率(lv)及(ji)小碎米(mi)率(lv)、整(zheng)精米(mi)数(shu)量、整(zheng)精米(mi)率(lv)、大米(mi)透明度、黄粒米(mi)、杂质量、异品(pin)种粒、不(bu)完善粒(未成熟粒),及(ji)糯米(mi)的阴米(mi)率(lv)、病斑或黄变率(lv)。还可自(zi)动分析大米(mi)的碾米(mi)精度、裂纹率(lv),以(yi)(yi)及(ji)糙米(mi)胚芽(ya)率(lv)。 自动(dong)测量(liang)(liang)每粒(li)的面积、长径(jing)、短径(jing)、长宽(kuan)比(bi)、圆(yuan)度、等效直径(jing)(长度测量(liang)(liang)误(wu)差(cha)≤±0.05mm,长宽(kuan)比(bi)测量(liang)(liang)误(wu)差(cha)≤±0.05,重现(xian)性(xing)误(wu)差(cha)≤±0.02;整精米(mi)率、碎米(mi)率指标(biao)测量(liang)(liang)误(wu)差(cha)≤±1.0%、重现(xian)性(xing)误(wu)差(cha)≤±0.25%)。 可大(da)批量自动(dong)分析处理(li)与输出(chu)结(jie)果。与国(guo)标(biao)(biao)GB/T1350稻谷(gu)、GB/T17891优质稻谷(gu)或GB1354大(da)米、农(nong)业部新标(biao)(biao)准【大(da)米】NY/T2334-2013等标(biao)(biao)准相对应,检测各项指标(biao)(biao)的重量比和粒(li)数比。 各分(fen)析图(tu)像、分(fen)布(bu)图(tu)、结果数(shu)据可保存,分(fen)析结果输出(chu)至Excel表,可输出(chu)分(fen)析标记图(tu)。 具有自(zi)动学习与识别(bie)特性(xing),可(ke)自(zi)动分割粘连的(de)大米(mi)、种粒,可(ke)做自(zi)动分类(lei)分析。 具有(you)样(yang)本条(tiao)码、电子天(tian)平RS232数据软件接口。可兼测(ce)的种粒直径(jing)范围0.3-20mm(厚(hou)15 mm),自动测(ce)量精度≥99%,交互修正(zheng)后准确率达100%。
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产地:中国